壓盤(pán)探頭 

TA/100 

通用壓盤(pán)探頭：以下壓方式可測樣品整體硬度(strength)，通過(guò)按壓可以測量面團、饅頭、蛋糕等面制品的硬度、彈性、咀嚼性、黏性等特性。 

柱形探頭 

TA/ 36R 

可用于TPA測試及單次下壓模式，通過(guò)按壓可以測量面團、饅頭、蛋糕等面制品的硬度、彈性、咀嚼性、黏性等特性。 

針形探頭 

TA/2N

針刺型探頭，通過(guò)穿刺深入樣品內部測試質(zhì)地剖面。該探頭可以用來(lái)測試餅干、威化等產(chǎn)品的破裂強度，從而分析餅干的硬度、脆性、咀嚼性等特性。 

球形探頭 

TA/0.5S 

直徑從0.25 - 1英寸的探頭。用于對面團、饅頭、蛋糕、餅干等面制品，可測樣品的硬度、彈性、粘性等指標。 

輕型切刀 

TA/LKB 

該探頭以壓力的方式來(lái)測量樣品的剪切硬度和可剪切性，.可測量面條、方便面、濕面等的切斷強度和硬度，反映樣品內部的組成成分和添加劑對樣品的影響。在面條中主要測試氧化劑、鹽、乳化劑或酶等的添加對面筋強度的影響。AACC（16-50）標準，面條硬度測試。 

面團拉伸裝置 

TA/KIE 

測定面團、面筋延展性(extensibility)和抗張力(resistance)，比較不 

同配方和工藝上面團的差異性。 

拉伸測試探頭 

TA/SPR 

該抗拉強度試驗臺，可測面條的斷裂強度和拉伸彈性，面條兩端嵌入上下兩輥子的中縫并旋轉2-3周以防面條滑動(dòng)。輥子的設計確保了測試時(shí)樣品不致裂開(kāi)、剪斷、，并使拉斷點(diǎn)只發(fā)生在中間的拉伸測試部分。 

面團發(fā)酵、硬度測試裝置 

TA/DP 

用于面及面制品，可測量面團的流變性，面團的硬度和發(fā)酵率。樣品放入測試室中.用通孔活塞的長(cháng)釘把面團中隨機分布的氣泡驅除.再用平頭活塞壓制出光滑的表面，后用6mm的柱型探頭測試硬度。 

面團粘性裝置 

TA/DSC 

主要用于面團粘性的測試，也可以用于米糕等具有粘彈性樣品的膠粘性（stickiness）測試。 

面皮破裂裝置 

TA/TPB 

了解面皮、面帶經(jīng)延壓后的伸展性(extensibility)、回復力(resilience) 

面條拉伸裝置 

TA/SFR 

用來(lái)檢驗面條、面皮的拉伸強度(tensile strength)和延展性(extensibility)。 

鉗口探頭 

TA/VB 

該裝置可進(jìn)行模擬人的牙齒咬斷食物的測試，樣品放在下鉗口內，咀嚼動(dòng)作由上鉗口撕裂食物的下壓動(dòng)作測試；適用于果蔬的剪切或韌性、柔軟度，并可對生熟食品的纖維度進(jìn)行測試。

薄膜支撐裝置

TA/FSR

可用于測試面皮、面片等樣品的撕裂強度和撕裂距離。